刘飞峰

椭偏仪 日本OTSUKA牌 FE-5000

400波長以上的多频分光法，量測出椭圆偏光光谱。 自由变换反射量測角度，可得到更詳細的薄膜解析数据。 反射角度自动可变的测量方式，對薄膜测量有更高的分析。 搭载有薄膜解析所需的全角度同時测量功能... ...

光学透过率检测仪 MCPD-3700

产品特色： l 内置的光衰减镜片（ND filter），拥有世目前宽的动态检测范围（:1），满足各种功率光源及荧光、色度、厚度、反射率、率等情况下的测光需求。l 配置世界的日本滨松... ...

日本OTSUKA动态画面反应时间检测仪MPRT-2000

採用模擬人類眼球移動方式的動態追蹤型CCD，更貼近於人類的真實視覺。以獨創的演算法確立時間軸的標準，便於在各種顯示器之間進行比較。包括在樣品的動畫顯示過程,量測與分析的步驟均由電腦所控制，操作容易... ...

高感度彩色亮度计

采用适合輝度、色度测量的回折光柵分光。辉度0.005cd/m2测量能力。对应CIE所推荐的波长范围( 355nm～835nm )。的光学系统，降低偏光誤差<1%，适用于帶有偏光特性的LCD显示器测量。测量，讯号传输... ...

相位差测量检测仪 RETS-100 日本大塚OTSUKA

可更加精確的量測微小相位差（0.1nm～）。 適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角（光學軸）或角度配向性等光學膜偏光特性的裝置。 檢測器採用多頻譜分光光譜儀，展現任一個波長的高相位差量測。 ... ...

色度仪

穿透率、色度、光學濃度、膜厚、反射率、線寬等測量，完整支援彩色濾光片製程中檢測評價。擁有業界標竿水準的量測穩定性，對應任何世代尺寸的高度國產化優良光學量測設備。自動對焦、自動畫素搜索功能、微小光學... ...

光源色度、辉度、照度光谱分析系统

分光光譜儀與量測光纖的搭配，解決各種量測需求的方案。分光光譜儀種類量測波長範圍MCPD-9800: 高動態範圍型360 ~ 830 nm360 ~ 1100 nm240 ~ 800 nmMCPD-3700: 紫外/可視/近紅外光型200 ~ 800 nm300 ~ 1000 ... ...

动态画面反应时间检测仪 日本大塚OTSUKA

采用模拟眼球移動方式的动态追踪型CCD，更贴近于的真实视觉。 以的演算法确立时间轴的标准，便于在各类显示器之间进行比较。 包括在样品的动画显示过程,测量与分析的步骤均由电脑所控制，操作... ...

RE-100低相位差检测仪 日本大塚OTSUKA

可測量从0nm开始的低相位差（殘留應力）。 检测光学轴的同时，同步測量相位差 (Re.)。(世界速0.1秒以下的测量解析) 偏光检测仪驱动干扰，可再現性测量。 无需复杂参数设定，操作简单易... ...

半导体晶圆、光学薄膜 膜厚测量仪 FE-300 （日本OTSUKA牌）

产品特色： 薄膜到厚膜的宽测量范围。 利用反射率光谱解析膜厚。 功能齐全，低价格並不影响高测量的表现。 设定与操作的简易化，短时间內即可上手。 提供价格优惠的固定平台与可自动对位平台两种规格。 非线... ...